电缆检测系列

超低频耐压与介质损耗因数测试系统

产品描述：VLF-TD 测试系统是一款面向中压电缆绝缘诊断的一体化超低频测试平台。系统可依据 CENELEC 协调文件 HD 620 S1:1996 和 HD 621 S1:1996，对中压电缆施加高达 46 kV 有效值的 0.1 Hz 正弦波电压，用于检测绝缘层故障，尤其适用于 PE/XLPE 电缆及纸绝缘电缆中的水树损坏检测，可可靠触发闪络，且不会损坏无故障绝缘层

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产品介绍

## 产品概述

[VLF-TD 测试系统](http://www.zt-hipot.com/product/2.html "VLF-TD 测试系统")是一款面向中压电缆绝缘诊断的[一体化超低频测试平台](http://www.zt-hipot.com/product/2.html "一体化超低频测试平台")。系统可依据 CENELEC 协调文件 HD 620 S1:1996 和 HD 621 S1:1996，对中压电缆施加高达 46 kV 有效值的 0.1 Hz 正弦波电压，用于[检测绝缘层故障](http://www.zt-hipot.com/product/2.html "检测绝缘层故障")，尤其适用于 PE/XLPE 电缆及纸绝缘电缆中的水树损坏检测，可可靠触发闪络，且不会损坏无故障绝缘层。

除[超低频正弦波耐压测试](http://www.zt-hipot.com/product/2.html "超低频正弦波耐压测试")外，VLF-TD 还支持正/负直流电压绝缘击穿强度测试、梯形交流电压（矩形波电压）输出、护套测试与精确定位、[漏电流测量](http://www.zt-hipot.com/product/2.html "漏电流测量")以及[介质损耗因数测量](http://www.zt-hipot.com/product/2.html "介质损耗因数测量")。矩形波转换速率取决于电缆电容，并可自动适应。直流模式下的漏电流测量可用于评估电缆绝缘的相对质量；正弦波输出可直接[测试电缆介质损耗因数](http://www.zt-hipot.com/product/2.html "测试电缆介质损耗因数")，帮助判断损耗因数劣化程度。

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## 核心亮点

**[超低频耐压与介损测试一体机](http://www.zt-hipot.com/product/2.html "超低频耐压与介损测试一体机")**：一机覆盖多种绝缘诊断需求
    **高 24/46 kV RMS [正弦波交流耐压测试](http://www.zt-hipot.com/product/2.html "正弦波交流耐压测试")**
   **支持直流、矩形波等其他输出电压波形**
    **[护套测试](http://www.zt-hipot.com/product/2.html "护套测试")与精确定位，高可达 10 kV**
    **[漏电流测量](http://www.zt-hipot.com/product/2.html "漏电流测量")**：直流模式下评估绝缘相对质量
    **手动和自动频率调节**：适应不同电缆电容条件
    **[击穿检测](http://www.zt-hipot.com/product/2.html "击穿检测")与自动保护**：电压击穿时自动断开高压连接
    **数据记录与报告导出**：内置存储器，支持 U 盘导出至电脑生成测试报告
    **USB 固件更新**：便于现场维护与功能升级
   - **多语言用户界面**：英语、中文（简体）、俄语、西班牙语等

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## 典型应用

中压[电缆交接试验与预防性试验](http://www.zt-hipot.com/product/2.html "电缆交接试验与预防性试验")
    PE/XLPE 电缆、纸绝缘[电缆绝缘故障检测](http://www.zt-hipot.com/product/2.html "电缆绝缘故障检测")
    [水树缺陷检测](http://www.zt-hipot.com/product/2.html "水树缺陷检测")与绝缘状态评估
    直流[绝缘击穿强度测试](http://www.zt-hipot.com/product/2.html "绝缘击穿强度测试")
    [电缆介质损耗因数](http://www.zt-hipot.com/product/2.html "电缆介质损耗因数") tan δ 测量
    护套测试与故障精确定位
    电缆绝缘相对质量与老化劣化趋势评估

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## 技术参数

### 输出电压

| 项目 | VLF-34kV | VLF-65kV |
|---|---|---|
| 输出电压（正弦波） | max. 24 kV RMS（34 kV PEAK） | max. 46 kV RMS（65 kV PEAK） |
| 直流电压 | ±1–34 kV | ±1–65 kV |
| 分辨率 | 0.001 kV | 0.001 kV |
| 精确度 | 1% | 1% |

### 输出电流

| 项目 | VLF-34kV | VLF-65kV |
|---|---|---|
| 测量范围 | 0–14 mA | 0–14 mA |
| 分辨率 | 1 µA | 1 µA |
| 精确度 | 1% | 1% |
| 大电容负载 | 0.1 Hz @ 0.5 µF / 24 kVrms / 34 kVpeak；0.05 Hz @ 1.0 µF / 24 kVrms / 34 kVpeak；0.01 Hz @ 8.0 µF / 18 kVrms / 25 kVpeak | 0.1 Hz @ 0.5 µF / 46 kVrms / 65 kVpeak；0.05 Hz @ 1.0 µF / 46 kVrms / 65 kVpeak；0.01 Hz @ 5.0 µF / 34.4 kVrms / 47.8 kVpeak |

### 介质损耗因数测量（VLF TD）

| 项目 | VLF-34kV | VLF-65kV |
|---|---|---|
| VLF-Sine | 1–24 kV rms | 1–46 kV rms |
| 负载范围 | 1 nF–8 µF | 1 nF–5 µF |
| 分辨率 | 1×10⁻⁵ | 1×10⁻⁵ |
| 精确度 | 1×10⁻⁴ | 1×10⁻⁴ |
| 测量范围 | 1×10⁻⁴–9999.9×10⁻⁴ | 1×10⁻⁴–9999.9×10⁻⁴ |
| tan-δ 测量频率 | 0.1 Hz | 0.1 Hz |

### 一般信息

| 项目 | VLF-34kV | VLF-65kV |
|---|---|---|
| 功耗 | max. 300 VA | max. 400 VA |
| 逆电压保护 | 13 kV | 15 kV |
| 数据接口 | USB 2.0 | USB 2.0 |
| 尺寸（宽×高×深） | Peli Case 1430，430 mm × 240 mm × 340 mm | 同 |
| 重量 | 22 kg | 22 kg |
| 环境温度（运行） | -10 至 +50 °C | 同 |
| 储藏温度 | -20 至 +60 °C | 同 |
| 安全与电磁兼容性 | 符合 CE 标准，符合低电压指令 (2014/35/EC)、电磁兼容性指令 (2014/30/EC)、环境影响 EN60068-2 及后续版本 | 同 |
| 用户界面 | 英语、中文（简体）、俄语、西班牙语等 | 同 |

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## 安全、合规与智能交互

VLF-TD 测试系统符合 CE 标准，满足低电压指令 (2014/35/EC)、电磁兼容性指令 (2014/30/EC) 以及环境影响 EN60068-2 和后续版本要求。系统具备电压击穿检测并自动断开高压连接、逆电压保护、漏电流测量、手动/自动频率调节等功能，兼顾现场安全与测试效率。测试数据可记录至内部存储器，并通过 U 盘导出到电脑生成测试报告。

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