高阻、闪络故障

  高阻故障是由于绝缘电阻和绝缘介质的抗电强度下降所致。                                                     
  可利用调压器、升压器、高压硅堆、电容器等对故障相击穿,增大贮能电容量或提高冲击电压,使故障点充分冲击,变高阻为低阻,或是向故障相通入一定的直流电流，使绝缘介质温度不断升高,发生烧焦、开裂、局部熔断,后导致击穿,形成低阻,用低压脉冲反射法来测量。                                                     
  但这些方法需要时间长,不易掌握冲击电压或烧熔直流电流的大小,控制不好易造成电缆其他处的损伤。                                                     
  所以,建议采用脉冲电压法,脉冲电流法,即用高压击穿故障点,利用故障点放电脉冲在测试端与故障点之间的反射计算故障距离。                                                     
  具体的操作方法有:直流高压闪络法、冲击高压闪络法、冲击高压终端闪测法、电流故障取样法。针对故障点阻值高低不同、闪络性故障现象分别查找。