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介质损耗测试什么时候用正接法

发布时间：2025/10/20浏览次数：138

小电容(<500pF)试品主要有电容型套管、电容型电流互感器等。对这些试品采用电桥的正、[反接线](http://www.zt-hipot.com/product/5.html "反接线")进行测量时，其[介质损耗因数的测量](http://www.zt-hipot.com/product/5.html "介质损耗因数的测量")结果是不同的，其原因分析如下。                                                             
  按[正接线](http://www.zt-hipot.com/product/5.html "正接线")测量一次对二次或一次对二次及外壳(垫绝缘)的[介质损耗因数](http://www.zt-hipot.com/product/5.html "介质损耗因数")，测量结果是实际被试品一次对二次及外壳[绝缘的介质损耗因数](http://www.zt-hipot.com/product/5.html "绝缘的介质损耗因数")。而一次与顶部周围接地部分之间的电容和[介质损耗因数](http://www.zt-hipot.com/product/5.html "介质损耗因数")均被屏蔽掉([电桥正接线测量](http://www.zt-hipot.com/product/5.html "电桥正接线测量")时，接地点是电桥的屏蔽点)。为了在现场测试方便，可直接测量一次对二次的[绝缘介质损耗因数](http://www.zt-hipot.com/product/5.html "绝缘介质损耗因数")，便可以灵敏地发现其进水受潮等绝缘缺陷，而按反接线测量的是一次对二次及地的[介质损耗因数值](http://www.zt-hipot.com/product/5.html "介质损耗因数值")。                                                             
  由于试品本身电容小，而一次与顶部对周围接地部分之间的电容所占的比例相对就比较大，也就对测量结果([反接线测量的综合介质损耗因数](http://www.zt-hipot.com/product/5.html "反接线测量的综合介质损耗因数"))有较大的影响。                                                             
  由于[正接线](http://www.zt-hipot.com/product/5.html "正接线")具有良好的抗电场干扰、测量误差较小的特点，一般应以正接线测量结果作为分析判断绝缘状况的依据。

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